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红外测温仪工作原理三

物体发射率对辐射测温的影响：自然界中存在的实际物体，几乎都不是。所有实际物体的辐射量除依赖于辐射波长及物体的温度之外，还与构成物体的材料种类、制备方法、热过程以及表面状态和环境条件等因素有关。因此，为使辐射定律适用于所有实际物体，红外测温仪，必须引入一个与材料性质及表面状态有关的比例系数，即发射率。该系数表示实际物体的热辐射与辐射的接近程度，其值在零和小于1的数值之间。根据辐射定律，只要知道了材料的发射率，红外测温仪厂，就知道了任何物体的红外辐射特性。

红外测温仪的发展

1800年，英国物理学家f. w. 赫胥尔发现了红外线，从此开辟了人类应用红外技术的广阔道路。在第二次1大战中，红外测温仪，德---用红外变像管作为光电转换器件，研制出了主动式夜视1仪和红外通信设备，为红外技术的发展奠定了基础。二次1大战后，首先由美国经过近一年的探索，开发研制的一代用于---领域的红外成像装置，称之为红外寻视系统（flir），它是利用光学机械系统对被测目标的红外辐射扫描。由光子探测器接收两维红外辐射迹象，经光电转换及一系列仪器处理，形成视频图像信号。这种系统、原始的形式是一种非实时的自动温度分布记录仪，后来随着五十年代锑化铟和锗掺gong光子探测器的发展，才开始出现高速扫描及实时显示目标热图像的系统。